Neo VIS 光谱辐射计是一款高端光谱仪，专为可见光波段（360-940 nm）的精确测量而设计。该设备在关键参数如线性度、暗电流、波长精度等方面设定了高标准。
采用高光通量设计和低杂散光光学系统，确保在各种光照条件下都能提供准确可靠的测量结果。适用于光谱分析、透射率测试、吸光度测试、固态照明（LED）测试等多种应用。
波长精度 ±0.1 nm，半高宽 4.1 nm 或更优
信噪比 > 1300:1，确保低噪声测量
杂散光仅约 0.05%，提高测量准确性
内部补偿，线性度优于 1%
支持透镜、余弦校正器、积分球等多种配置
| 光学系统 | |
|---|---|
| 光谱范围 | 360 - 940 nm |
| 波长精度 | ± 0.1 nm |
| 半高宽 (FWHM) | 4.1 nm（光栅槽密度200槽/毫米，狭缝100微米） |
| 杂散光 | ~ 0.05 % |
| 信噪比 | > 1300:1 |
| 探测器性能 | |
| 探测器类型 | CCD阵列探测器 |
| 线性度 | 内部补偿，优于 1% |
| 积分时间 | 1.6 ms - 60 分钟 |
| 功能特性 | |
| 光学接口 | SMA、FC/PC工业级连接器，透镜/余弦校正器直接耦合 |
| 校准 | 波长和辐射度/辐照度 PTB 可追溯初始校准 |
| 软件支持 | Neo Suite（Windows 和 macOS） |
| SDK支持 | DLL、Python、LabVIEW等编程接口 |
| 物理规格 | |
| 设计特点 | 结构紧凑，坚固耐用，易于集成 |
用于高精度光谱分析和颜色测量。
测量材料的光谱透射特性。
适用于固态照明产品的性能测试。
易于系统集成，支持定制化解决方案。
