Helios系列通过一次拍摄即可获取整个显示器画面的完整颜色和亮度分布图，相比传统点测量方式，能够快速发现局部均匀性问题、Mura（不均匀性）缺陷以及色偏区域。
内置的高精度色度计与成像系统协同工作，通过实时校准确保成像测量数据的绝对精度，使Helios成为高端显示器品质管控和研发的理想工具。
高分辨率CMOS传感器，捕捉显示器每个像素的颜色信息
一次测量获得整屏亮度和色度分布图，快速识别均匀性问题
内置Mura检测算法，自动标识和量化显示器不均匀性缺陷
高精度点色度计提供绝对亮度校准，保证成像数据准确性
可配合旋转台进行多角度色偏测量，表征视角色彩特性
| 成像性能 | |
|---|---|
| 传感器分辨率 | 高分辨率科学级CMOS |
| 颜色滤光系统 | 精密XYZ滤光轮 |
| 测量模式 | 亮度图 / 色度图 / 均匀性图 |
| 测量功能 | |
| 亮度均匀性 | 支持，生成全画面亮度分布图 |
| 色度均匀性 | 支持，生成u'v'色度分布图 |
| Mura检测 | 支持，内置SEMI标准算法 |
| 对比度测量 | 局部对比度和全屏对比度 |
| 多角度测量 | 支持（配合旋转台） |
| 内置点色度计 | |
| 亮度范围 | 0.001 – 10,000 cd/m2 |
| 闪烁测量 | 支持 |
| 接口与连接 | |
| 数据接口 | USB 3.0 / GigE |
| 镜头接口 | C-mount / F-mount |
| 软件支持 | |
| SDK | DLL / Python |
| 分析软件 | Admesy Helios 专用分析软件 |
快速评估显示器全屏亮度和色度均匀性，发现局部亮斑、暗斑或色偏区域。
自动检测和量化显示器的Mura（云状不均匀性）缺陷，支持SEMI标准和客制化判定。
配合旋转台进行多角度测量，全面表征显示器的视角色彩漂移特性。
用于LED面板、背光模组等面光源的光强分布和均匀性分析。
