Neo UV-NIR 光谱辐射计覆盖紫外到近红外波段（200-1100 nm），为各种分析应用提供理想的解决方案。该设备在关键参数如线性度、暗电流、波长精度等方面设定了高标准。
采用制冷的高端CCD探测器，确保在各种应用中都能提供优异的性能。非常适合吸收度、透射率测试、LED测试和固态照明测量等应用。
200-1100 nm 全波段，涵盖紫外、可见光和近红外
采用制冷高端CCD探测器，低温环境下工作
波长精度 ±0.1 nm，半高宽 4.1 nm 或更优
信噪比 > 1300:1，低噪声测量
内部补偿，线性度优于 1%
| 光学系统 | |
|---|---|
| 光谱范围 | 200 - 1100 nm |
| 波长精度 | ± 0.1 nm (UV-NIR) |
| 半高宽 (FWHM) | 4.1 nm 或更优 |
| 杂散光 | ~ 0.05 % |
| 信噪比 | > 1300:1 |
| 探测器性能 | |
| 探测器类型 | 制冷高端CCD探测器 |
| 线性度 | 内部补偿，优于 1% |
| 积分时间 | 1.6 ms - 60 分钟 |
| 工作温度 | -10°C (制冷条件下) |
| 功能特性 | |
| 光学接口 | SMA、FC/PC工业级连接器，透镜/余弦校正器直接耦合 |
| 校准 | 波长和辐射度/辐照度 PTB 可追溯初始校准 |
| 软件支持 | Neo Suite（Windows 和 macOS） |
| SDK支持 | DLL、Python、LabVIEW等编程接口 |
| 物理规格 | |
| 设计特点 | 结构紧凑，坚固耐用，易于集成 |
用于材料吸收光谱分析。
测量材料的光谱透射特性。
适用于固态照明产品的性能测试。
用于薄膜厚度和涂层分析。
