Helios Y 搭载 65MP 全局像素（Gpixel）CMOS 探测器，可在一次拍摄中捕获显示器或光源的完整亮度分布图，以像素级精度揭示每一处亮度不均匀问题。
采用像方远心镜头系统，配合 Admesy 自研的特殊干涉滤光片镀膜工艺，有效消除透镜角度效应，确保从中心到边缘的滤光片均匀性 f1' <1%，成为科研与产线均可依赖的高精度亮度测量利器。通过 10 GigE 以太网高速传输图像数据，适用于各类高吞吐量自动化测量场景。
像素级亮度成像，完整捕获全画面每一个发光点
Admesy 工厂自研自产，光谱响应精确匹配 CIE 1931 Y 函数（f1' <3%）
特制远心光路确保光线垂直入射滤光片，完全消除角度效应
通过软件指令自动调节光圈和焦距，并在设定范围内自动平场校准
快速传输超高分辨率图像数据，满足产线高吞吐量需求
| 传感器与成像 | |
|---|---|
| 探测器 | 65MP 全局像素 Gpixel CMOS 传感器 |
| 通讯接口 | 10 GigE 以太网 |
| 滤光片性能 | |
| 光谱响应 | CIE 1931 CMF（Y，f1' <3%） |
| 滤光片均匀性 | f1' <1% |
| 滤光片类型 | 高精度干涉型 Y 滤光片（Admesy 工厂自研自产） |
| 测量精度 | |
| 亮度精度 | ±3% |
| 镜头系统 | |
| 镜头设计 | 像方远心镜头（Image-space telecentric） |
| 对焦控制 | 软件自动控制（电动对焦） |
| 光圈控制 | 软件自动控制（电动光圈） |
| 平场校准 | 在设定光圈与焦距范围内自动校准 |
| 软件支持 | |
| 配套软件 | Admesy Imaging Suite（Helios & Titan 系列专用，Windows） |
| 参考文档 | Luminance Imaging System Accuracy — Application Note |
一次拍摄获得整屏亮度分布图，快速识别局部亮斑、暗斑及显示 Mura 缺陷，大幅提升检测效率。
精确表征 LED 背光板、导光板的出光均匀性和亮度分布，支持背光模组的研发优化与量产品质管控。
超高分辨率传感器可分辨单个像素乃至亚像素级的亮度异常（亮点、暗点），满足高品质面板的缺陷筛查需求。
适用于 LED 灯具、车灯、OLED 照明等面光源的空间光强分布和均匀性分析，满足光效研发与法规认证需求。
