亮度均匀性测试 精度高、速度快

生产显示器时，快速评估显示区域的亮度是至关重要的。既要快速测量各灰阶下的固定画面，同时还需要快速测量调整Gamma曲线时对灰阶画面做的一些微调响应。

同样的道理，显示器集成到电子设备、汽车或其他应用中时，准确地表征显示器性能以进行质量控制是非常重要的。开发Helios成像系统是为了以完美的方式满足这些需求。

Admesy在创造和生产设备时尤为重视设备的准确性、易用性和测量速度。

利用我们研发团队18年的经验和高度集成的制造方法，我们引入了几个正在申请专利的独特功能，进一步提高了Helios成像系统的精度极限。

与所有Admesy设备一样，Helios Y 65MP适用于产线全天候连续测量，且易于集成到生产设备中，性价比非常高。

产品亮点

Ÿ  高精度、均匀的Y滤光片，工厂自制

Ÿ   大光圈，非常适合低亮度测量

Ÿ   通过软件命令自动控制光圈和对焦

Ÿ   针对多个光圈大小进行平场校准

Ÿ   针对不同的光圈和焦距自动进行平场修正

Ÿ   暗电流补偿

Ÿ   多款镜头选择，可选用OD滤光片

规格参数